CEM華盛昌DT-156涂層測厚儀使用說明書
1、儀器簡要說明
1、探頭
2、開關(guān)機(jī)按鍵
3、零校準(zhǔn)鍵
4、向下或向右翻滾或遞增按鍵
5、藍(lán)色按鍵,在菜單模式下,用于退出、否、后退功能.或者在正常工作方式下,用于背光開關(guān)鍵
6、主顯示區(qū)
7、測量單位顯示
8、NFe:指示測量所得讀數(shù)為非鐵磁性金屬涂層讀數(shù)
Fe:指示測量所得讀數(shù)為鐵磁性金屬涂層讀數(shù)
9、指示探頭工作原理:AUTO方式下,根據(jù)測量基體自動(dòng)選擇探頭工作
模式.F方式下只工作在磁感應(yīng)原理.N方式下只工作在渦流原理.
10、指示儀表和計(jì)算機(jī)通信連接正常
11、USB連接端口
12、低電指示
13、儀表工作模式指示:直接模式
和組模式
14、統(tǒng)計(jì)值顯示:平均值Zzui大值Z
zui小可旬標(biāo)準(zhǔn)方差
15、測量數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)數(shù)
16、紅色鍵在菜單模式下用于確定、
是、菜單進(jìn)入等菜單操作功能.
17、向上或向左墅滾或遞減按鍵
2準(zhǔn)備開始
2.1電源
按山按鍵開機(jī).如果沒有州可動(dòng)作和Lco顯示r請檢查是否裝好電池
或者可能電池已經(jīng)耗盡,建議更換電池.如果顯示.標(biāo)明電池快要耗
盡,此時(shí)儀表會(huì)在幾秒內(nèi)自動(dòng)關(guān)機(jī),請更換電池后重新開始。
2.2替換電池
放置儀表于合適位置日背面朝上.您會(huì)看到電池盒固定螺tT,用合適梅
花螺絲刀扭出螺釘便可去掉電池盒蓋,拔掉電池并重新安裝新電池,之
后裝好電池盒蓋扭好螺釘,電池更換完成。
2.3菜單和基本設(shè)益
(注意:此章節(jié),在以后所有章節(jié)都會(huì)提到,建議隨時(shí)查閱)開機(jī)后,儀表
處于測量模式,按紅色按鍵可以進(jìn)入菜單模式,下面列舉了所有菜單項(xiàng)
目,了解各菜單項(xiàng)功能將有助于您順利完成各項(xiàng)工作:
2.3.1菜單>>探頭工作原理
>>統(tǒng)計(jì)值瀏覽>>根據(jù)基體自動(dòng)選擇
>>平均值>>磁感應(yīng)(適用鐵磁性基體)
>>zui小值>>渦流(適用非磁性金屬基體)
>>zui大值>>單位設(shè)置
>>統(tǒng)計(jì)數(shù)>>微米
>>標(biāo)準(zhǔn)方差>>英制單位(中國大陸地區(qū)一般不用此單位)
>>選項(xiàng)>>米
>>測量方法>>背光
>>單次測量>>開
>>連續(xù)測量>>關(guān)
>>工作模式>>測量模式下統(tǒng)計(jì)顯示選項(xiàng)
>>直接模式>>平均值
>>>組1工作模式>>>zui大值
>>>組2工作模式>>>zui小值
>>>組3工作模式>>>標(biāo)準(zhǔn)方差
>>>組4工作模式
>>自動(dòng)關(guān)機(jī)設(shè)置
>>>自動(dòng)關(guān)機(jī)功能開啟
>>>禁用自動(dòng)關(guān)機(jī)
>>界限報(bào)警設(shè)置
>>界限設(shè)置
>>高限值設(shè)置
>>低限值設(shè)置
>>刪除恢復(fù)界限值設(shè)置到默認(rèn)
>>刪除
>>刪除zui近測量數(shù)據(jù)
>>刪除當(dāng)前工作組所有測量數(shù)據(jù)
>>刪除當(dāng)前工作組所有測量數(shù)據(jù)同時(shí)刪除所有校準(zhǔn)數(shù)據(jù)
>>測量值瀏覽
>>校準(zhǔn)設(shè)置
>>使能一點(diǎn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)并進(jìn)行LC。指示
>>禁用一點(diǎn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)并耽肖LC時(shí)旨云zui近完成的校準(zhǔn)將劉艦懂有效
>>非鐵基體上零校準(zhǔn)恢復(fù)出廠默認(rèn)值
>>鐵基體上零校準(zhǔn)恢復(fù)出廠默認(rèn)值
2.3.2基本設(shè)置
請參考以上菜單安排,按照LCO指示,按紅色按鍵進(jìn)行確認(rèn)、是、菜單進(jìn)入、選擇等功能操作。按藍(lán)色鍵進(jìn)行退出、否、后退等功能操作。按向上或向下鍵翻滾選擇項(xiàng)。
2.3.2.1測量方式
連續(xù)測量法:此法適合探頭無需抬起而連續(xù)測量并觀察讀數(shù)的場合.此種情況下,蜂鳴只在探頭接觸到待測物件時(shí)鳴響一聲,之后將不再鳴響.布郭娜l量工作方式下,讀數(shù)被自動(dòng)洲予流計(jì)計(jì)算直到存儲(chǔ)空可茜.
單次測量去:探頭垂直迅速的置于待測物件之上每測量一點(diǎn)同時(shí)伴隨一聲蜂鳴,讀數(shù)被顯示于LC0.必須提起探頭離州到可金屬物件scm以上,約1.5秒后方可進(jìn)行下一次測量.每一次測量的數(shù)據(jù)和連續(xù)方式一樣將被保存和統(tǒng)計(jì).
2.3.2.2探頭選擇
我們一體化探頭可以工作在三種模式下:
AUTO:探頭根據(jù)待測物件性質(zhì)(鐵磁性物質(zhì)或非鐵磁性金屬)自動(dòng)轉(zhuǎn)入
相應(yīng)工作模式。如果待測物件是鐵鎳等磁性金屬物質(zhì),探頭將轉(zhuǎn)入磁感
應(yīng)原理工作模式.如果待測物件是非磁性的金屬物質(zhì),探頭將轉(zhuǎn)入渦
流原理工作模式.
Fe:探頭將是磁感應(yīng)原理工作模式。
NO一Fe:探頭將是渦流原理工作模式。
2.3.2.3單位設(shè)置
您能方便的在公制(微米、毫米)和英制(mils)單位之間切換.請仔細(xì)閱讀菜單安排,按照屏幕提示操作.特別需要提醒的是,在”微米”單位下當(dāng)讀數(shù)數(shù)值超過850微米時(shí),單位將自動(dòng)轉(zhuǎn)為”毫米”,這是由精度指標(biāo)決定的,請閱讀儀表指標(biāo)章節(jié).
2.3.2.4總復(fù)位
總復(fù)位將擦除存儲(chǔ)器保存的所有數(shù)據(jù),包括所有工作模式的讀數(shù)和設(shè)置
(恢復(fù)出廠默認(rèn)),還有它們的統(tǒng)計(jì)值、校準(zhǔn)值和上下限報(bào)警值。但是此操作不會(huì)影響出廠基本校準(zhǔn)值,用戶可放心適用此功能。要進(jìn)行總復(fù)位操作,操作如下:
a關(guān)機(jī)
同時(shí)按z〔RO+山鍵.
LCD將顯示”sure to reset”此時(shí)按紅色鍵確定進(jìn)行總復(fù)位,否則退出
按藍(lán)色鍵。儀表自動(dòng)重新開機(jī)。
2.3.2.5背光
請看菜單安排章節(jié),您可以通過菜單開關(guān)背光.此外,在正常測量模式
下,您可以按藍(lán)色按鍵一次以開關(guān)背光.
2.3.2.6LCD顯示統(tǒng)計(jì)設(shè)置
您可以通過菜單設(shè)置在工作模式下LcO顯示的統(tǒng)計(jì)選項(xiàng)(平均值、zui大
值、zui小值和標(biāo)準(zhǔn)方差),設(shè)置完成返回后,被設(shè)置的統(tǒng)計(jì)項(xiàng)目將顯示
statisticview”菜單項(xiàng),您可以遍覽當(dāng)下工作組所有統(tǒng)計(jì)值.
2.3.2.7讀數(shù)瀏覽
通過”Measurementview”菜單項(xiàng),您可以瀏覽當(dāng)前工作組所有測量
讀數(shù)。
2.3.2.8自動(dòng)關(guān)機(jī)
請仔細(xì)閱讀菜單安排章節(jié),您可以通過菜單關(guān)閉和開啟自動(dòng)關(guān)機(jī)功能.
3測量、存儲(chǔ)和數(shù)據(jù)處理
儀表提供兩種工作模式二直接模式和組工作模式,其中組工作模式包括
組1一組4共4組。
直接測量模式(DIR)用于快速隨意測量.在此模式下,測量數(shù)據(jù)會(huì)臨時(shí)
保存在內(nèi)存中,可以通過菜單瀏覽所有已存數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值,但一旦關(guān)機(jī)、
系統(tǒng)掉電或者從直接模式切換到組工作模式,這些數(shù)據(jù)將全部自動(dòng)丟
失.此模式下讀數(shù)、統(tǒng)計(jì)值和統(tǒng)計(jì)數(shù)被同時(shí)顯示在LcO上.此模式下,
zui多將統(tǒng)計(jì)80個(gè)數(shù)據(jù),一旦超出,讀數(shù)將替換zui舊讀數(shù)并保存更
新統(tǒng)計(jì)值.此模式下,可以單獨(dú)進(jìn)行一點(diǎn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)單獨(dú)設(shè)置高氏
界限報(bào)警。
組測量模式(GROI一4)二每一組工作模式下,系統(tǒng)可保存zui多80個(gè)數(shù)據(jù)、
5個(gè)統(tǒng)計(jì)值.一點(diǎn)二點(diǎn)校準(zhǔn)和高氏界限報(bào)警可以單獨(dú)設(shè)置和保存.
關(guān)徹湘掉電,所有保存值不會(huì)丟失,并且組與組之間相互獨(dú)立不受影
響。需要?jiǎng)h除保存的值,可以通過菜單操作進(jìn)行。當(dāng)測量數(shù)據(jù)超出80
個(gè),數(shù)據(jù)測量可以繼續(xù)進(jìn)行,但是所得數(shù)據(jù)將不被保存和統(tǒng)計(jì)計(jì)算,如
有需要,您可以通過菜單刪除組數(shù)據(jù),請仔細(xì)參閱菜單安排章節(jié)。
請通過菜單選擇當(dāng)前工作組模式:DIR或GROI一4.
按山鍵同時(shí)探頭請遠(yuǎn)離倒可金屬scm以上,開機(jī)后,儀表默認(rèn)工作在
DIR模式下.LCO將佰封寺顯示zui近的測量讀數(shù)。
4校準(zhǔn)和測量
4.1校準(zhǔn)概述
4.1.1校準(zhǔn)方法
我們擁有四種校準(zhǔn)方法,敘述如下
基本校準(zhǔn):適用于測量光滑物件表面涂層,或者測量物件的材料、面積
和曲葬和我們隨機(jī)附帶基體接近.
零點(diǎn)校準(zhǔn)二建議開始任間一項(xiàng)測量任務(wù)前都進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn),測量中途出
現(xiàn)可疑誤差,也可隨時(shí)作歸零操作。
一點(diǎn)校準(zhǔn)二預(yù)先估計(jì)待測量涂層厚度,使校準(zhǔn)點(diǎn)盡量靠近待測厚度,可
以有效實(shí)現(xiàn)高精度測量。此校準(zhǔn)方法可以輕松地使測量誤差控制在
士(1%…3%)+1um/1.sum(傳感器自身系統(tǒng)誤差)
二點(diǎn)校準(zhǔn)二和一點(diǎn)校準(zhǔn)相可以盡量使待測涂層厚度范圍與兩點(diǎn)校準(zhǔn)點(diǎn)
接近,以更州蟹正待測范圍內(nèi)的誤差。該校準(zhǔn)用于粗糙表面涂層測量
和高精度的光滑涂層表面測量。
4.1.2校準(zhǔn)值保存
在伯日可模式下,您所完成的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)都自動(dòng)保存,所有的測量創(chuàng)冬以zui
新的校準(zhǔn)為準(zhǔn)修正誤差。同時(shí),如果發(fā)現(xiàn)校準(zhǔn)值明顯有誤可以通過菜
單刪除組數(shù)據(jù)方式”Groupdata”恢復(fù)到出廠默認(rèn).具體請參閱有關(guān)
章節(jié)。
提示:校準(zhǔn)讀數(shù)在以下情況,您必須重新校準(zhǔn),否則可能測量有誤.
--明顯不正確的讀數(shù)
--校準(zhǔn)時(shí)儀表關(guān)機(jī)
4.1.3校準(zhǔn)實(shí)例
校準(zhǔn)是影響測量精度的關(guān)鍵因素.測量必須校準(zhǔn),校準(zhǔn)樣本越接
近被測樣本,校準(zhǔn)和測量就越準(zhǔn)確。例如:如果被測樣本是一個(gè)直徑為
6mm的低碳鋼柱那么無涂層校準(zhǔn)樣本的直徑和材料也應(yīng)該盡量相同.
標(biāo)準(zhǔn)樣本必須在下列幾點(diǎn)上與被測樣本相符:
表面曲率半徑
基體材料
基體厚度
被測面積
標(biāo)準(zhǔn)樣本上,校準(zhǔn)點(diǎn)位置盡量與產(chǎn)品的測量點(diǎn)一致,尤其測量于小樣本
或邊角位置,此時(shí)用精密支架定位。
4.1.4高精度測量校準(zhǔn)
為得到高精度測量,校準(zhǔn)時(shí),建議在每一點(diǎn)上做多次反復(fù)校準(zhǔn),這樣儀器
會(huì)自動(dòng)用其平均校準(zhǔn)值作為zui終校準(zhǔn)低詳見4.2這種方法在非平滑,
例如噴丸表面,非常實(shí)用。
4.1.5清潔測點(diǎn)
校準(zhǔn)前,測量和探頭頂部的油漬,金屬屑物等必須清除干凈,少量的雜質(zhì)
也會(huì)影響測量,改變讀數(shù).
4.2校準(zhǔn)特別提示
對于大多數(shù)應(yīng)用場合,基本校準(zhǔn)(出廠默認(rèn)校準(zhǔn)),我們不建議做任間調(diào)整.
為了避免誤操作,本說明書省去了此章節(jié),若用戶使用中,通過零點(diǎn)校準(zhǔn),
一點(diǎn)校準(zhǔn)或二點(diǎn)校準(zhǔn),仍然不能解決問題,請致電售后服務(wù),我們將為您
提供。
通過以下方法,您可以進(jìn)入一點(diǎn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)模式,根據(jù)屏幕提示,您可以
正確完成校準(zhǔn):
首先,通過菜單選擇校準(zhǔn)模式(Menu一>Calibration一>〔nable),Lc劇各
會(huì)顯示”CaIn(0rl一2)Zeron(ory):"n”表示沒有川可點(diǎn)校準(zhǔn)(前者)
或沒有零校準(zhǔn)(后者),"y”表示已進(jìn)行過零校準(zhǔn)(當(dāng)前測量是以此零點(diǎn)為
準(zhǔn))。”Ca!1一2”表示有1到2個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)(1表示一點(diǎn)校準(zhǔn),2表示兩點(diǎn)校準(zhǔn)).
提示:零點(diǎn)校準(zhǔn)可以不用進(jìn)入此校準(zhǔn)模式,在測量模式,探頭置于待測無
涂層基體表面,得到測量值后提起,按住Z〔RO按鍵,聽到嘀一聲響后松
開便成功進(jìn)行一次歸零操作,如此反復(fù)操作可川導(dǎo)到一個(gè)零校準(zhǔn)平均值,
可有效防止零點(diǎn)校準(zhǔn)偶然誤差.
雖然在校準(zhǔn)模式同樣可以正確測量,但為避免誤校準(zhǔn)操作,完成校準(zhǔn)后,
我們建議通過MUN〔菜單相關(guān)設(shè)置退出校準(zhǔn)模式.進(jìn)入測量模式后,所
有數(shù)據(jù)測量都將以的零校準(zhǔn)、一點(diǎn)或二點(diǎn)校準(zhǔn)為準(zhǔn),對數(shù)據(jù)進(jìn)行修
正,顯示和保存修正后的數(shù)值.
校準(zhǔn)前的準(zhǔn)備工作:
開機(jī)遠(yuǎn)離州可金屬至少5厘米以上,遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁場。
待測基體和必要的校準(zhǔn)箔片(可用隨機(jī)附帶的5種規(guī)格薄片).
設(shè)置工作模式:通過菜單系統(tǒng)設(shè)置連續(xù)或單次測量模式。
4.2.1零點(diǎn)校準(zhǔn)(無剩到可校準(zhǔn)箔)
把探頭快速垂直地放在無涂層基體上.
LC顯示<x.xum>,在連續(xù)方式和單一方式下測量方式稍有不同,在本
說明書之前已有介紹.正確得到數(shù)據(jù)后,迅速抬起探頭離開基體至少
5厘米以上。
然后,按住2ERO鍵約1.5秒,LC顯示0.0um,校準(zhǔn)完成.
可重復(fù)以上步驟幾次,校準(zhǔn)系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)計(jì)算和使用其平均值.
注意:
有時(shí),在進(jìn)行零校準(zhǔn)之前,有必要通過菜單刪除舊的零校準(zhǔn)點(diǎn)(具體菜單
項(xiàng),可參看前面章節(jié))。因?yàn)?,我們所用的零校?zhǔn)實(shí)際上是zui多5次零校
準(zhǔn)的平均值.按照以上步驟每完成一次,就保存一個(gè)零校準(zhǔn)值,當(dāng)超過
5次后,zui舊的值將被的替換,如此依次,系統(tǒng)自動(dòng)將用zui近5次校
準(zhǔn)值計(jì)算平均得到實(shí)際零校準(zhǔn)值.試想,如果這些操作中,有一次大的
誤差操作,肯定對zui后平均值影響很大,如果做一次刪除操作,系統(tǒng)將所
有參數(shù)歸O,當(dāng)然就不存在這個(gè)問題了。另外,重新開關(guān)機(jī)也可得到和刪
除同樣的效果。
4.2.2一點(diǎn)校準(zhǔn)
此方法用于較高精度測量.
零點(diǎn)校準(zhǔn)請參見4.2.1.
將校準(zhǔn)箔片放在無涂層基體上,得到穩(wěn)定數(shù)據(jù)后提起探頭。按Up或者
OOWN調(diào)節(jié)顯示值至所測箔片厚度。
重復(fù)幾次以上步驟,校準(zhǔn)系統(tǒng)會(huì)計(jì)算平均值作為zui終校準(zhǔn)值.
使用校準(zhǔn)值試測量。
必要時(shí)需要?jiǎng)h除校準(zhǔn)例如輸入一個(gè)錯(cuò)誤的圈直時(shí)進(jìn)入M〔NU一>delete
一>delete group data.注意:這將會(huì)刪除所有測量存儲(chǔ)數(shù)據(jù)、上下限
報(bào)警數(shù)據(jù),一點(diǎn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù),但此操作不影響零點(diǎn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù).刪除
所有數(shù)據(jù)后,出廠基本校準(zhǔn)可以保證一定誤差范圍內(nèi)的測量,用戶不必
擔(dān)心誤操作.若高精度測量,請重新做一點(diǎn)或二點(diǎn)校準(zhǔn).
特別提示二
請仔細(xì)觀察屏幕,"CalxZerox”之前黑色方塊,每次按Up或者OOWN
鍵一次,它將重新開始計(jì)時(shí),在305時(shí)間內(nèi),你可以按一下藍(lán)色的按鍵取
消當(dāng)前點(diǎn)校準(zhǔn).在此時(shí)間內(nèi),對于當(dāng)前點(diǎn)校準(zhǔn),儀器可以容納5次校準(zhǔn)值
并自動(dòng)計(jì)算平均值作為zui終校準(zhǔn)值,當(dāng)滿5次后的校準(zhǔn)值會(huì)替換zui
舊的校準(zhǔn)值,此和零點(diǎn)校準(zhǔn)非常相似,可參考零點(diǎn)校準(zhǔn).305后,對此點(diǎn)
的校準(zhǔn)將正式生效左邊黑色方塊自動(dòng)消失,或者提前按ZERO一次,可
使當(dāng)前點(diǎn)校準(zhǔn)強(qiáng)制生效.即使長期進(jìn)行一系列的連續(xù)測試工作,校準(zhǔn)也
是有必要經(jīng)??紤]的,它直接影響測量準(zhǔn)確性。
4.2.3兩點(diǎn)校準(zhǔn)
建議在單次測量方式下進(jìn)行,請通過菜單轉(zhuǎn)換工作方式.兩點(diǎn)校準(zhǔn)需要
使用2個(gè)不同的箔片.請粗略估測您實(shí)際工作需要測量的厚度范圍,此
范圍不宜過大,范圍越小,能獲得的測量精度越高.然后選擇兩點(diǎn)校準(zhǔn)
所需要的2個(gè)不同厚度標(biāo)準(zhǔn)箔片,此兩標(biāo)準(zhǔn)箔片厚度盡量靠近并包含實(shí)
際工作需要測量的厚度測量范圍。此方法尤其適用于非平滑,例如噴丸
表面或用于高地測量。校準(zhǔn)步驟如下:
零點(diǎn)校準(zhǔn).參見4.2.1
一點(diǎn)校準(zhǔn).參見4.2.2
重復(fù)步驟2。
使用校準(zhǔn)值試測量。
說明二二點(diǎn)校準(zhǔn)實(shí)際上就是兩次一點(diǎn)校準(zhǔn)。如果系統(tǒng)只存入了一點(diǎn)的校
準(zhǔn)值,則修正方式就是一點(diǎn)修正方式,若再次存入一點(diǎn)校準(zhǔn),則修正方式
自動(dòng)成為二點(diǎn)修正方式.zui后實(shí)際顯示和存儲(chǔ)的讀值則是基本校準(zhǔn)下
所得數(shù)據(jù)加零點(diǎn)修正、一點(diǎn)或者二點(diǎn)修正值,注意,一點(diǎn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)不
會(huì)同時(shí)存在。
4.2.4噴丸表面校準(zhǔn)方法
噴丸表面的物理性質(zhì)會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)偏差,平均覆層厚度可用下面的方法確
定(統(tǒng)計(jì)程序在這里非常有用)二
方法一:
按照4.2.2或者4.2.3的方法校準(zhǔn)儀表.校準(zhǔn)基體選擇光滑且曲率半徑
和基體材料與待測試件相近.
在無覆層的經(jīng)過同樣噴丸處理的表面測量10次左右,得到一個(gè)平均值,
記作XO。
在有涂層的噴丸的被測樣本上測10次得到平均值Xm.
Xm與Xo的差(Xm一Xo)土S就是平均覆層厚度,其中S是Xm與XO兩者
標(biāo)準(zhǔn)方差中的較大者.
方法二:
無涂層噴丸基體上進(jìn)行多次零校準(zhǔn)。然后在無涂層的基體上,用一片
校準(zhǔn)箔做一點(diǎn)校準(zhǔn)。該箔片可由數(shù)片SOum的箔片組成箔厚盡量與
預(yù)計(jì)涂層厚度接近。
測量待噴丸涂層厚度此厚度應(yīng)為5一10個(gè)單次測量結(jié)果的平均值.統(tǒng)
計(jì)程序在這里非常有用.
方法三二
此種方法測量的結(jié)果也十分可靠.如4.2.3所述,只需使用兩個(gè)箔片,進(jìn)
行2點(diǎn)校準(zhǔn)。為了zui大程度地接近各自被測表面的性質(zhì),箔片的厚度可
以通過使用多片每片厚度為50um的校準(zhǔn)箔片疊加得到。厚度測量結(jié)
果應(yīng)為5一10個(gè)單次測量結(jié)果的平均值。
注意:對于大于30Oum的涂層,粗糙程度的影響并不十分重要且沒有必
要使用上述校準(zhǔn)方法.
4.3測量中的計(jì)算方法
仔細(xì)校準(zhǔn)以后,所有測量偏差將會(huì)在洲門承諾的誤差范圍之內(nèi)。發(fā)電機(jī)
等大功率電器設(shè)備附近的強(qiáng)磁場會(huì)影響讀數(shù),建議盡量遠(yuǎn)離。當(dāng)使用統(tǒng)
計(jì)程序獲取平均值的時(shí)候建議將探頭放置于具有典型意義的測點(diǎn)上連
續(xù)測量多次??赏ㄟ^菜單系統(tǒng)刪除任何錯(cuò)誤或者不符讀數(shù)。zui終的讀
數(shù)由統(tǒng)計(jì)程序和翻門承諾的測量誤差范圍共同決定,如下所述.
涂層厚度D=X±s±u
例如
讀數(shù)
讀數(shù):150um,156um,153um
平均值:X=153um
標(biāo)準(zhǔn)偏差 S=士3Um
測量偏差 u=土(3%ofreading+lum)
D=153士3±(4.59um+lum)
=153土8.59um
5上下限報(bào)警功能
無論在直接(DIR)工作方式,還是在組工作方式(GRO),數(shù)據(jù)測量的州可
時(shí)候,您可以進(jìn)入MUNE菜單設(shè)置上下限(具體請看菜單章節(jié)),一旦設(shè)
置成功,測量數(shù)據(jù)超出此限范圍的時(shí)候,屏幕拱并良警提示:
H:讀數(shù)超過zui高限額
L:讀數(shù)超過zui低限額
6測量中的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)
厚度統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)zui多可統(tǒng)計(jì)80個(gè)讀數(shù)(GROI~GRO4:總共zui多可儲(chǔ)存
4x80=320個(gè)讀數(shù)).此外,在DIR模式除了讀數(shù)不存儲(chǔ)外,其化湘GRO
模式相同。
NO:二開機(jī)以來進(jìn)行統(tǒng)計(jì)的讀數(shù)個(gè)數(shù)
AVG:平均值
Sdev:標(biāo)準(zhǔn)方差
MAX:zui大讀數(shù)
MIN:zui小讀數(shù)
6.1統(tǒng)計(jì)條例
平均值(X)
讀數(shù)之和除以讀數(shù)的個(gè)數(shù)X=X/n
標(biāo)準(zhǔn)方差(Sdev.)
標(biāo)準(zhǔn)方差表征讀數(shù)的分散度.讀數(shù)越分散標(biāo)準(zhǔn)方差就越大,標(biāo)準(zhǔn)方差
是方差S2的平方根.
偏差S2=E(X-x)/(n-1)
標(biāo)準(zhǔn)偏差S=S2開平方
注意:當(dāng)出現(xiàn)異常或不確定測量值時(shí)應(yīng)馬上刪除,請查看M〔NU中的刪
除功能。
6.2存儲(chǔ)益處
在組測量模下,如果超出存儲(chǔ)能力(80個(gè)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)),測量仍可繼續(xù)進(jìn)行,
但所有數(shù)據(jù)不計(jì)入統(tǒng)計(jì).在單次測量方式下,如果存儲(chǔ)器已滿,LcO顯
示屏上會(huì)顯示”「ULL”字樣。
直接測量模式下,如果存儲(chǔ)器已滿,數(shù)據(jù)會(huì)自動(dòng)代替zui舊的數(shù)據(jù),統(tǒng)
計(jì)值仍繼續(xù)更新。
刪除功能
刪除zui后一個(gè)讀數(shù):如果你發(fā)現(xiàn)測試結(jié)果不正確,你可以通過此功能刪
除zui后一個(gè)讀數(shù)。同時(shí),統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)會(huì)自動(dòng)更新。
刪除所有數(shù)據(jù)二你可以刪除當(dāng)前工作模式下的所有統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。
全部刪除二這一功能會(huì)刪除該組所有測量值、統(tǒng)計(jì)值、校準(zhǔn)值、上下限
報(bào)警設(shè)置值。
以上功能,具體操作,請參看菜單章節(jié).
傳輸數(shù)據(jù)至計(jì)算機(jī)
所有工作模式下的測量數(shù)據(jù)都可以通過USB口下載到電腦進(jìn)行數(shù)據(jù)分
析,詳情請查看配套軟件相關(guān)指南。
注意:建議在儀器與電腦連接時(shí)不做州可測量。
故障排除
下面的故障符號(hào)可提示如何去識(shí)別和排除故障。
Errl:渦流探頭有異常
Err2:磁感應(yīng)探頭有異常
Err3:兩探頭均有異常
Err4,5,6:保留未使用
Err7:二厚度測量結(jié)果錯(cuò)誤