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壓縮機(jī)球墨鑄鐵零件的超聲波探傷方法及標(biāo)準(zhǔn)

  • 發(fā)布日期:2024-01-31      瀏覽次數(shù):532
    • 壓縮機(jī)球墨鑄鐵零件的超聲波探傷

      1.主題內(nèi)容與適用范圍

      本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀所進(jìn)行的探傷方法和缺陷等級(jí)分類。

      本標(biāo)準(zhǔn)適用于壓縮機(jī)球墨鑄鐵零件(以下簡(jiǎn)稱“工件")和其他類似部件的超聲波探傷。

      2.術(shù)語(yǔ)

      2.1 透聲性

      超聲縱波垂直入射到測(cè)試面與底面平行的無(wú)缺陷工件時(shí),聲波在其中往返一次所引起的聲壓降,單位為分貝(db)。

      3.探傷人員

      壓縮機(jī)球墨鑄鐵零件探傷應(yīng)由具有一基礎(chǔ)知識(shí)和球墨鑄鐵件探傷經(jīng)驗(yàn),并經(jīng)考核取得有關(guān)部門認(rèn)可的資格證書者擔(dān)任。

      4.探傷器材

      4.1 探傷儀

      4.1.1 采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀,其頻率范圍應(yīng)在1~5MHz之間。

      4.1.2 儀器至少應(yīng)在滿刻度的75%范圍內(nèi)呈線性顯示,垂直線性誤差不得大于5%。

      4.1.3 儀器的水平線性、分辨力和衰減器的精度等指標(biāo)均應(yīng)符合ZB Y230的有關(guān)規(guī)定。

      4.2 探頭

      4.2.1 縱波直探頭的晶片直徑應(yīng)在10~30mm之間,工作頻率為1~5MHz,頻率誤差為±10%。

      4.2.2 橫波斜探頭的晶片面積應(yīng)在100~400mm,K值一般取1~3。

      4.2.3 縱波雙晶直探頭晶片之間的聲絕緣必須良好。

      4.3 儀器系統(tǒng)的性能

      儀器系統(tǒng)的靈敏度余量和分辨力應(yīng)按照ZB J04 001的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。

      4.3.1 在工作頻率下,縱波直探頭的靈敏度余量不得低于30dB,橫波斜探頭的靈敏度余量按附錄A(補(bǔ)充件)A1.2條的規(guī)定。

      4.3.2 在工作頻率下,縱波直探頭的分辨力不得低于20dB,橫波斜探頭的分辨力不得低于15dB。

      4.4 試塊

      標(biāo)準(zhǔn)試塊用碳鋼或低合金鋼鍛件材料制作,不允許存在大于等于φ2mm平底孔當(dāng)量的缺陷。

      4.4.1 縱波直探頭采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊

      4.4.1.1 工件探測(cè)距離大于等于1.6倍近場(chǎng)區(qū),應(yīng)采用縱波直探頭。

      4.4.2縱波雙晶直探頭采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊

      4.4.2.1 工件探測(cè)距離小于1.6倍近場(chǎng)區(qū),應(yīng)采用縱波雙晶直探頭。

      4.4.3 橫波斜探頭探傷采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸應(yīng)按附錄A中A1.3條及圖A1的規(guī)定。

      4.4.4 探傷面是曲面時(shí),應(yīng)采用與工件曲率半徑相同或接近(0.7~1.1倍)的對(duì)比試塊來(lái)測(cè)定由于曲率不同而引起的聲能損失,其形狀和尺寸按圖3及表1。

      4.5耦合劑

      可采用機(jī)油、甘油、油脂等透聲性能好,且不損害工件的耦合劑。

      5.探傷時(shí)機(jī)及準(zhǔn)備工作

      5.1探傷原則上應(yīng)安排在最終熱處理后進(jìn)行,若因熱處理后工件形狀不適于超聲探傷,也可將探傷安排在熱處理前,但熱處理后,仍應(yīng)對(duì)其進(jìn)行盡可能的探傷。

      5.2工件應(yīng)在外觀檢查合格后,方可進(jìn)行超聲探傷,所有影響超聲檢測(cè)的物質(zhì)都應(yīng)予以清除。

      5.3探傷面的表面粗糙度值應(yīng)為Ra3.2μm。

      6.探傷方法

      工件超聲探傷以縱波直探頭和縱波雙晶直探頭為主要探傷方法。如因受工件形狀和缺陷方向的限制,無(wú)法單獨(dú)用縱波探傷進(jìn)行有效的檢測(cè),經(jīng)供需雙方協(xié)商同意,可采用附錄A規(guī)定的橫波檢驗(yàn)方法。

      6.1探測(cè)方向

      6.1.1原則上應(yīng)從探測(cè)面上兩相互垂直的方向進(jìn)行,并應(yīng)盡量掃查到工件的整個(gè)體積。

      6.1.2主要工件的探測(cè)方向如圖4所示。

      6.2掃查

      6.2.1 應(yīng)對(duì)工件整個(gè)探測(cè)面進(jìn)行全面連續(xù)掃查。相鄰兩次掃查其相互重疊部分約為探頭晶片直徑的15%。

      6.2.2 掃查時(shí),探頭移動(dòng)速度不得大于150mm/s。

      6.2.3因工件幾何形狀限制而掃查不到的區(qū)域,應(yīng)在探傷報(bào)告中予以注明。

      6.3工件透聲性的測(cè)定

      將縱波直探頭與工件上探測(cè)面和底面平行而且無(wú)缺陷的部位耦合接觸,調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度達(dá)到滿刻度的50%,記錄此時(shí)衰減器的讀數(shù)。再調(diào)節(jié)衰減器,使第二次底面回波的幅度達(dá)到滿刻度的50%,兩次衰減器讀數(shù)之差即為該測(cè)量點(diǎn)的透聲性。測(cè)量點(diǎn)不得少于三點(diǎn),以其平均值表示該區(qū)域的透聲性。

      6.4探傷靈敏度的確定

      6.4.1波直探頭探傷靈敏度的調(diào)整

      首先,將工件與探測(cè)距離等于或工件厚度的標(biāo)準(zhǔn)試塊相比較,求出透聲性補(bǔ)償值和表面粗糙度補(bǔ)償值。然后在該試塊上測(cè)試,使其φ3mm平底孔的回波幅度達(dá)到滿刻度的10%~20%,不改變儀器的參數(shù),對(duì)探測(cè)距離較小的一系列試塊逐一測(cè)試,測(cè)出其φ3mm平底孔回波的最高點(diǎn),繪在熒光屏上,連接這些點(diǎn)即可建立距離-幅度曲線。也可A、V、G計(jì)算法或A、V、G曲線板確定其距離-幅度曲線。

      6.4.2縱波雙晶探頭探傷靈敏度的調(diào)整

      測(cè)試一組不同探測(cè)距離的φ3mm平底孔,調(diào)節(jié)衰減器,使其中最高的回波幅度達(dá)到滿刻度的80%,不改變儀器的參數(shù),測(cè)出其他平底孔回波的最高點(diǎn),將其繪在熒光屏上,連接這些點(diǎn),即可建立縱波雙晶探頭的距離-幅度曲線。

      6.4.3補(bǔ)償

      6.4.3.1表面粗糙度補(bǔ)償:在探傷和缺陷定量時(shí),應(yīng)對(duì)由于表面粗糙度引起的能量消耗進(jìn)行補(bǔ)償。

      6.4.3.2透聲性補(bǔ)償:在檢測(cè)和缺陷定量時(shí),應(yīng)對(duì)試塊透聲性引起的探傷靈敏度和缺陷定量的誤差進(jìn)行透聲補(bǔ)償。

      6.4.3.3曲面補(bǔ)償:對(duì)于探測(cè)面是曲面的工件,應(yīng)采用與工件曲率半徑相同或相近(0.7~1.1倍)的對(duì)比試塊來(lái)校正,否則應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)那嫜a(bǔ)償。

      6.4.4 探測(cè)靈敏度不得低于最大探測(cè)距離的φ3mm平底孔當(dāng)量。

      6.5探傷靈敏度的復(fù)查

      探傷中,應(yīng)核查探傷靈敏度,發(fā)現(xiàn)探傷靈敏度有改變時(shí),應(yīng)重新調(diào)整。當(dāng)增益電平降低2dB以上時(shí),應(yīng)對(duì)上一次校準(zhǔn)以來(lái)所檢查的工件進(jìn)行復(fù)探;當(dāng)增益電平升高2dB以上時(shí),應(yīng)對(duì)所有記錄缺陷進(jìn)行重新定量。

      7.缺陷檢測(cè)

      7.1缺陷記錄

      7.1.1反射回波幅度等于或高于距離-幅度曲線的缺陷。

      7.1.2反射回波幅度雖未達(dá)到距離-幅度曲線,但造成第一次底面回波消失的缺陷。

      7.1.3底波和缺陷回波均沒(méi)有的部位。

      7.1.4雖不屬于上述三種情況,但探傷人員能判定是裂紋和縮孔的缺陷。

      7.2缺陷尺寸的測(cè)定

      7.2.1當(dāng)缺陷回波幅度等于或高于距離-幅度曲線者,其邊界可用6dB法確定。工件厚度方向的尺寸由不同方向檢測(cè)所確定的缺陷上部和下部邊界確定。

      7.2.2當(dāng)缺陷波未達(dá)到距離-幅度曲線,但第一次底面回波消失時(shí),缺陷的范圍應(yīng)從底面反射波剛好消失時(shí)的探頭中心位置算起到出現(xiàn)底面反射波時(shí)的探頭中心位置為止。缺陷的深度由一組連續(xù)缺陷回波最左側(cè)的波峰位置確定。

      7.2.3當(dāng)兩塊缺陷間距小于其中較大缺陷直徑時(shí),兩缺陷可折合為一個(gè)缺陷,缺陷面積按實(shí)測(cè)計(jì)。

      7.2.4單個(gè)缺陷的面積以該缺陷的最大尺寸與其在垂直方向的最大尺寸之積計(jì)算。

      7.2.5對(duì)于有疑問(wèn)的缺陷,也可采用其他行之有效的方法來(lái)進(jìn)行驗(yàn)證。

      8.缺陷等級(jí)分類

      8.1工件中不允許存在裂紋和縮孔等危害性缺陷。

      8.2工件的缺陷等級(jí)按表3規(guī)定,但對(duì)于圓柱形實(shí)心軸類工件的缺陷等級(jí)分類按表4規(guī)定。

      8.3缺陷所在的截面積為探測(cè)部位的最小剖截面積??招妮S與實(shí)心軸的截面積均按實(shí)心軸計(jì)算。 

       


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