四探針探頭的選擇

四探針電阻率方阻測試︱四探針探頭的選擇

四探針電阻率方阻測試︱四探針探頭的選擇： 四探針探頭是四探針法測試電阻率/方阻測試系統(tǒng)的關鍵部件。探頭通過四根探針，以適當?shù)膲毫忘c陣形式與樣品接觸，連接四探針儀器后，實現(xiàn)四探針法電流的加載，電壓的取樣。應根據(jù)樣品的物理特性，如是固體還是粉末，是一般硅片、金屬等硬質(zhì)材料還是柔性薄膜、涂層、ITO膜類材料，是單一導電層材料還是復合導電層，樣品的尺寸大小等條件來選擇探頭的壓力和點陣形式，選擇型號。  表2《四探針探頭型號規(guī)格特征選型參照表》 序號 型號 名稱 特征圖片 規(guī)格參數(shù) 選用場合 1   ST2253-F01 鎢針直線四探針探頭      直線四探針針距：1+1+1，探針：碳化鎢針 硅片、金屬等硬材料電阻率/方阻測試 2   ST2558A-F01 光伏電池片方阻直線四探針探頭 直線四探針針距：2+2+2，探針：長鋼尖針 硅材料光伏電池片方阻測試 3   ST2558A-F02 薄膜方阻刀型測試臺 刀型測試臺刀距100，刀寬100 柔性薄膜、金屬涂層膜方阻測試 4   ST2558B-F01 薄膜方阻直線四探針探頭 直線四探針針距：2+2+2，探針：鍍金磷銅半球形針尖 柔性薄膜、金屬涂層膜、ITO膜電阻率/方阻測試   5   ST2558B-F02 箔上涂層電阻率方阻四端子探頭 針距8，直徑4探針：圓柱平端面   箔上涂層電阻率/方阻測試   6   ST2558B-F03 薄膜方阻直線四探針探頭   直線四探針針距1+1+1，探針：鍍金磷銅半球形針尖 柔性薄膜、金屬涂層膜、ITO膜電阻率/方阻測試   7   ST2571A-F01 薄膜方阻矩形四探針探頭   矩形四探針針距1X1探針：碳化鎢針 硅片電阻率和方阻儀   8   ST2571A-F02 薄膜方阻矩形四探針探頭 矩形四探針針距1X1探針：鍍金磷銅半球形針尖 柔性薄膜、金屬涂層膜、ITO膜電阻率/方阻測試   9   ST2571A-F03 薄膜方阻矩形四探針探頭 矩形四探針針距2X2探針：鍍金磷銅半球形針尖 柔性薄膜、金屬涂層膜、ITO膜電阻率/方阻測試